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超薄膜厚度检测技术

超薄膜厚度检测技术(shu)

薄膜测(ce)(ce)试仪(yi)连续测(ce)(ce)厚(hou)机FT-A200 / FT-A200R
FT-A200

配备(bei)高精(jing)度测(ce)量头和(he)放大(da)器(qi)单(dan)元的高duan机器。
只需设置(zhi)从生(sheng)产线上切下的(de)薄膜(mo),您就可以轻(qing)松地(di)连续(xu)测(ce)量厚度(du)。

FT-A200 测量范围 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 测(ce)量(liang)范围(wei) / 3 μm 至 100 μm
测量分辨率(lv)0.01 μm

薄膜(mo)测试仪连(lian)续测厚机FT-D200
FT-D200

带有内置显(xian)示(shi)屏的一体式紧凑(cou)型(xing)机(ji)器(qi)。
输送(song)功(gong)能得到进一步提升,可实现(xian)稳定的连续测厚。

测量(liang)范围(wei) 10 μm 至 500 μm
测量分辨率(lv) / 0.1 μm

薄膜测试仪(yi)连(lian)续测厚机FT-D100NL
FT-D100NL

一体成型机的(de)进化版。
只需设置薄膜,您(nin)就可以在没有引(yin)线的情况(kuang)下从(cong)jian端测量厚度。

测量范围 20 μm 至 500 μm
测(ce)量分(fen)辨率(lv)/0.1 μm



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